株式会社エレクトロニカ IMT事業部 株式会社エレクトロニカ IMT事業部

APP EXAMPLEアプリケーション例

2021.05.02

AFM 針先で原子をスキャン(ニューキャッスル大学)

統合されたマイクロカンチレバーにより原子をスキャン!

原子間力顕微鏡(AFM)の優れた解像度は、光ベースの顕微鏡よりも1000 倍以上に高感度
電子顕微鏡とは異なり、サンプルをその場で画像化可能
メカトロニクス、MEMS、および低ノイズ電子設計の専門知識を結集して、AFMシステムの
ナノテクノロジーの複雑さとコストを削減できる独自のソリューションの例

詳細は、下記を参照してください。
AFM 針先で原子をスキャンの例
針先で原子をスキャンする(和文)
針先で原子をスキャンする(英文)